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單粒子翻轉SEU(Single-Event-Upset)緩解技術大幅降低維護成本,有效提升全天候關鍵應用最長運行時間
台灣新北市--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)--隸屬SGH (Nasdaq: SGH) 控股集團,全球專業記憶體與儲存解決方案領導者 SMART Modular 世邁科技 (“SMART”) 宣佈推出獨家SEU緩解技術,用來減輕單粒子翻轉 (Single-Event-Upset)對高可靠性快閃記憶體系統造成的損害性影響。SMART 的 MP3000 NVMe SSD 採用SEU 緩解技術,將每百萬單位的年故障率從高達 17,500 次降至不到 10 次,從而大幅減少數十萬美元的潛在維護成本,並幫助確保數百小時的不間斷運行時間,對於難以維修的遠端部署極具效益。
SMART Modular世邁科技 Specialty Memory副總裁 Satya Iyer表示,「我們符合業界標準的 SATA 和 PCIe NVMe 開機碟能從單粒子翻轉導致的軟錯誤中恢復,將年故障率降低高達 99.7%。對於部署在偏遠及難以提供維修服務地點的網通和電信設備來說,SEU 緩解技術提供從軟錯誤中恢復的能力,對於要求24/7全天候不間斷運行的系統至關重要 。」
SEU 是數位系統中的「位元狀態」無意間發生的變化,指的是當高能中子或 α 粒子隨機撞擊導致記憶體位元(邏輯元件)翻轉原本狀態的現象。這些高能粒子可能來自地面或外太空,例如宇宙射線。SEU 會導致數位系統運行異常,甚至會造成整個系統崩潰。因此,若能直接透過SSD 解決這些錯誤或異常,無需重啟系統即可恢復運作,這對於維持系統運行的可靠性和持續性將發揮關鍵作用。
SEU 緩解技術比其他單靠 ECC 錯誤校正技術修復內部SRAM的解決方案更有效,讓SSD 不僅能在無需重啟主機的情況下輕鬆進行自身重啟,還能處理內部其他元件潛在的位元翻轉現象,額外減少10% 故障的發生。SMART 搭載SEU 緩解技術的開機碟專為要求最長運行時間的應用而設計,提供60GB 至 1.92TB儲存容量,以及商規和工業寬溫規格。
ME2 SATA M.2 和mSATA SSD 採用 SEU 緩解技術,提供 60GB 至 1.92TB 的儲存容量,支援商規(0°C 至 70°C)和工規寬溫(-40°C 至 85°C)操作溫度。M.2 2280 更搭載SafeDATA™斷電資料保護技術。
MP3000 NVMe PCIe SSD採用 SEU 緩解技術,提供M.2 2280、M.2 22110 和 E1.S外形規格, 以及80GB 至 1.92TB 的儲存容量,支援商規(0°C 至 70°C)和工規寬溫(-40°C 至 85°C)操作溫度,同時也搭載SafeDATA™斷電資料保護技術。欲瞭解更多產品資料,請上SMART官網查詢。
* 此圖像化的 “S”和 “SMART”,“SMART Modular Technologies”是 SMART Modular Technologies, Inc. 的商標。所有其他商標和註冊商標所有權為各自所有。
關於SMART Modular世邁科技
成立超過三十年,SMART Modular 世邁科技致力於協助全球客戶設計、開發並提供高階封裝的特殊型記憶體解決方案來實現高性能運算。 SMART Modular 世邁科技提供健全的產品組合,從最尖端的技術到標準型和傳統 DRAM 記憶體模組和快閃記憶體產品,我們皆可提供標準型、強固型和客製化的記憶體和儲存解決方案,來滿足高成長市場對多樣化應用的需求。更多資訊請參考: www.smartm.com/ch
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