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桃園2021年3月17日 /美通社/ -- 致茂電子深耕半導體測試領域已20年,在中國擁有廣大愛好者。從基礎的4-bit 處理器到高端的 AI 人工智能芯片,處處都能看到致茂半導體測試機台的身影。

此次展出的Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統,為3380系列平台往高端技術的延伸。其數字信道速率(data rate)最高可達1Gbps、最高512個並行測試的能力及512M Word 測試數據存儲器深度,均可滿足高端芯片的測試需求,並同時達到降低測試成本的目標。致茂半導體測試解決方案支持全球四大導航系統,整合旗下 Adivic MP5806S RF 測試分析儀,內建各種不同的調變與解調協議,更提供定位系統所需的標准測試方法。此外,HDAVO 高性能混合信號方案搭配多種無線射頻測試儀,是高端智能音箱與無線耳機測試最具信價比的組合,提供了 32 個射頻 (RF) 通道,可以進行大量並行測試,同時兼顧成本、產量與質量。

Chroma 3300 PXIe半導體測試系統是市面上最具彈性,功能最完整的測試機台。它承襲了 Chroma 3380P 系列的設計與技術優勢,使用新一代 CRAFT-Plus 軟件進一步支持了 Microsoft Visual Studio 2019 的許多優點,使得整合第三方之 PXIe 儀表更加簡易。非常適合微控制器、微機電(MEMS)傳感器、射頻放大器 (RF PA) 與 CMOS 顯像傳感器(Image Sensor)的測試使用。

Chroma 3200 Versatile Platform 為一款可自由搭配的 SLT Test Cell 測試平台,使用靈活自如的Robot取放測試芯片,同時可選配31K (溫控-40~+150°C),或更高階的32K(溫控-70~+150°C) ATC 溫控系統,來滿足客戶對溫控測試的需求。Chroma 的虛擬生產監控工具(CVOT)可遠程追蹤監控產品測試流程,透過大數據預測機台測試效率,大幅縮短出貨時間並提高產品測試良率,也能利用虛擬眼鏡的軟硬件結合,可遠程示維修操作,解決因疫情期間,技術人員無法到現場維修的狀況。

SEMICON China 2021 (3月17-19日),致茂電子將於上海新國際博覽中心 (攤位號: N3583)展出嶄新的半導體測試解決方案,我們誠摯的邀請各位來賓一同體驗量測新趨勢,期待在此年度盛會中見面。

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https://www.chromaate.com

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